宜智发科技(深圳)有限公司

PROBE探针台

在顯微鏡底下，利用探針搭接於IC內部線路，使其可以外接各類設備，以便量測或輸入訊號：

探針分為硬針與軟針。硬針以針尖1um及5um粗細為主要應用規格；軟針針尖 < 1um，主要應用在高頻電路及FIB probing PAD

當EMMI / OBIRCH / TLP / ESD / Curve tracer等在無適當治具或socket可用時，可由點針方式提供訊號輸入輸出

Wafer可搭配Probe card做各項測試

有架設 Laser system ,可做Laser cut

PROBE探针台
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